蔡司X射线显微镜Xradia 515

　　蔡司Xradia 510/520 Versa产品于2011年上市，历经近10年的时间考验，该系列产品已广泛应用在科研和工业检测领域，它以其先进技术特点、稳定的产品性能成为了广大用户所青睐的经典款产品。我们推出新款Xraida 515 Versa X射线显微镜，保持先进的大样品高分辨率技术优势的同时，还可实现高达500 nm空间分辨率。该产品通过使用更高分辨率的光学元件，实现分辨率的改善和突破。与此同时，该产品还加入了更多的智能的元素，并且具有更广阔的拓展能力。

　　在分辨率方面的改进与大样品高分辨率(RaaD)成像技术的结合，保证了Xradia 515 Versa可对各种类型和尺寸的样品实现高分辨率成像。Xraida 515 Versa产品可引入智能防撞系统Smartshield，让操作更加智能、安全。计算机工作站配备上的升级也将大大提升了数据处理能力。此外，Xraida 515 Versa系统还可进行扩展和升级，包括原位接口、4D原位试验平台、迭代重构、自动进样装置、平板探测器等多个拓展模块。结合蔡司Xradia平台的灵活性和稳定性，该产品出色的多功能、多应用领域特点将为您的研究工作快速的提供分析成果。

　　通过近10年的发展，蔡司X射线显微镜已有500余台产品被全世界知名的大学、研究机构和企业广泛安装使用。在中国，用户购置设备台数也从不足20台达到80余台。国内知名院校和研究机构包括中科院很多研究院所、上海交通大学、西湖大学、西安交通大学、清华大学等单位都先后购置和使用了该产品。X射线显微镜正成为科研测试中心平台和工业先进检测分析不可或缺的检测手段。由于蔡司X射线显微镜的普及和应用，使用该设备产生的研究成果也层出不穷。在工业检测领域持续为电子半导体无损失效分析和质量控制做出贡献。