博微高加速温湿度应力试验系统半导体测试

高加速温湿度应力试验系统BW-HAST-H4

                               适用于 SI/SIC/GaN 芯片的各种封装类型的二极管、三极管、SCR、MOSFET、IGBT、IPM、桥堆等 半导体器件进行 HAST 试验。

技术特点 Technical characteristics

■实时监测每个器件的反偏电压、漏电流；

■电压可达6000V;;

■对于模块上下桥可同时加电同时监测漏电；

■整个试验过程的数据(漏电流、反偏电压、温度、湿度) 记录并存储。并输出为Excel  报表和绘制全过程漏电流IR 曲

■设定漏电上限可快速切断该回路电压；

■可根据用户的需求，定制各种老化板及测试程序。