LCL-13薄膜测厚仪产品介绍
LCL-13型薄膜测厚仪根据多次反射光谱相干原理，本仪器可提供非接触测量薄膜厚度，折射率，吸收系数等；采用最新软件版本，具有纳米级测量和方便使用等优点；测量方便度和准确度远好于常用光学椭偏仪。是薄膜研究，光学镀膜，和半导体生产不可缺少的测量研究仪器。
LCL-13薄膜测厚仪主要实验内容
学会薄膜和涂层的厚度测量及折射率和吸收系数的测定
LCL-13薄膜测厚仪实验原理
LCL-13薄膜测厚仪配置参数
良益LCL-13薄膜测厚仪
发布日期 ：2018-12-11 13:34 编号：4985394
发布IP：115.214.68.224
- 供货厂家
-
天津良益科技股份有限公司
- 品牌
- 天津良益
- 厚度范围
- 20nm-50um(只测膜厚），100nm-10um(同时测量膜厚和光学常数n,k）根据薄膜材料的种类，其范围有所不同
- 准确度
- <1nm或<0.5%
- 可测层数
- 1-4层
- 报价
- 电议
- 起订
- 1 台
- 库存
- 10000 台
- 发货时间
- 30 天内
- 联系人
- 章赛(先生)销售经理
- 电话
- 13821236129
- 手机
- 13821236129
- 询价邮件
- liangyi_zs55@163.com
- 区域
- 天津津南光学测量
- 地址
- 天津市津南区咸水沽镇海河科技园区聚兴道7号
- 在线咨询：
-
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详细介绍
手机版链接：https://m.trustexporter.com/cz4985394.htm
LCL-13薄膜测厚仪产品介绍
LCL-13薄膜测厚仪产品介绍